詳細摘要: 用于檢測磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測試。
產品型號:HY-IC所在地:上海市更新時間:2018-05-15 在線留言上海衡翼精密儀器有限公司
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商鋪:http://www.gm-expo.com/st31130/
主營產品:拉力試驗機,材料試驗機,萬能試驗機,扭轉試驗機,臥式拉力試驗機,IC卡動態彎曲試驗機,沖擊試驗機,微機萬能材料試驗機,扭矩測試儀
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